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AOI視覺檢測設備,自動光學檢測設備AOI原理

了解AOI全自動電子光學檢測儀以及工作中原理

1、界定:

AOI的全名是全自動電子光學檢測,是根據電子光學原理來對電焊焊接制造中碰到的普遍缺點開展檢測的機器設備。AOI是新崛起的一種新式檢測技術,但進步快速,許多廠商都推行了AOI檢測設備。全自動電子光學檢測儀主要是根據電子光學原理、權值顯像差別數據統計分析原理、顏色獲取方式、相似度原理和二值化原理等來實行檢測的。發覺問題并開展圖像核對方式。

AOI技術性向數字化角度發展趨勢是SMT發展趨勢產生的必定規定。在SMT的小型化、密度高的化、迅速拼裝化、種類多元化發展趨勢特點下,檢測數據量大而繁雜,不論是在檢測意見反饋實用性層面,或是在剖析、確診的準確性層面,依靠人力對AOI獲得的產品質量信息內容開展剖析、確診基本上早已不太可能,替代人力開展系統自動剖析、確診的智能化AOI技術性成為了未來發展的必定。

全自動電子光學檢測儀(AOI-Automated Optical Inspection)是運用于表層貼裝(SMT-Surface Mounted Technology)自動生產線上的一種全自動電子光學查驗設備,可有效性的檢測包裝印刷品質、貼裝品質及其點焊品質。根據應用AOI機器設備做為降低問題的專用工具,在機械加工工藝全過程的初期搜索和清除不正確,以保持較好的過程管理。初期發覺缺點將防止將欠佳品送至后工藝流程的安裝環節,AOI機器設備將降低維修成本費將防止損毀不能維修的線路板.

2、主要特點:

(A)快速檢測系統軟件,不會受到PCB貼裝相對密度危害;

(B)迅速方便的程序編寫系統軟件,圖形界面頁面,眼見為實,應用貼裝數據信息自行開展檢測程序編寫;

(C)對于不一樣的檢測新項目,融合電子光學顯像解決技術性,各自有不一樣的檢測方式(檢測優化算法);

(D)在被檢測元器件的貼裝部位有偏差的情形下,檢測對話框會自動化技術精準定位,做到高精密檢測;

(E)表明具體不正確圖像,便捷開展職工開展最后的看著核查;

(F)統計分析NG數據統計分析造成欠佳緣故,即時意見反饋加工工藝信息內容。

AOI檢測儀工作中原理:

AOI通過十幾年的發展趨勢,技術實力仍處在飛速進步環節,怎樣保持最好的檢測實際效果,一直是各AOI生產商持續科技攻關的技術性話題討論。現階段我國市面上看得見的AOI機器設備知名品牌諸多,每一種AOI檢測機器設備各有千秋;每一個牌子的AOI優點具體反映都在于其差異的自主創新關鍵手機軟件優化算法,一般 采取的手機軟件優化算法有:模版較為、邊沿查驗、灰度級實體模型、svm算法、固體模型、矢量分析、圖型匹配和傅立葉氏剖析等,但雖然優化算法各不相同,AOI的運行原理基本一致。

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(1) AOI的燈源由紅、綠、藍三種LED燈構成,運用顏色的三基色原理來組成不一樣的顏色,融合電子光學原理中的全反射、漫反射光、斜坡反射面,將PCB上貼片式元器件及電焊焊接情況以圖像的形式展現出去。

(2)權值顯像數據信息差異分析系統軟件是根據對一幅圖像柵格化,剖析每個清晰度顏色遍布的地方座標、顯像柵格數據中間(顏色)過多關聯等顯像關鍵點,列舉多個涵數式,再利用對同樣總面積多少的若干幅相似圖片開展數據信息獲取,并剖析測算,將數值按手機軟件設置的權值關聯及最開始圖像清晰度顏色、座標開展復原,產生一個虛似的、權值的數據圖像,這一圖像稱之為“權值圖像”,其關鍵電子信息包括了圖像的幾何圖形輪廊、顏色的遍布、容許轉變的權值關聯等,便于之后開展剖析和解決。

(3)相似度原理。運用圖像的亮暗關聯產生總體目標物的外觀設計輪廊,較為該外觀設計輪廊與規范輪廊的相似水平。該方式財檢測元器件的缺少、漏貼等非常合理。

(4)顏色獲取。一切顏色均可以用紅、綠、藍三基色依照一定的比率攪拌而成。紅、綠、藍產生一個三維顏色正方體。顏色獲取便是在這個顏色正方體中裁截一個必須的小顏色方體,即相匹配大家必須選擇顏色的范疇,隨后計算機所檢測的圖像中達到該顏色方體占全部圖像顏色數的占比,查驗是不是滿足要求的設置范疇。在以紅、綠、藍三色陽光照射的情形下,該方式最適用于對電阻器、電容器等焊錫絲開展檢測。

(5)圖像核對。在檢測流程中,機器設備根據CCD拍攝系統軟件收集所檢測電路板上的圖像,通過圖像智能化處置后鍵入電子計算機內部,與規范圖像開展計算核對(核對新項目包含元器件的規格、視角、偏移、色度、顏色及地方等),并將對比結果超出額定值偏差閥值的圖像根據顯示屏輸出,并表明其在PCB上的具體地址。

(6)二值化原理。將總體目標圖像按一定方法轉化為灰度級圖像,隨后選擇一定的色度閥值開展圖像解決,小于域值的立即轉化成灰黑色,高過域值的立即轉化成乳白色。使標識符、IC短路故障等立即從原圖像中提取。

根據上述方式,全自動電子光學檢測儀可以進行遺失元器件、元器件正負極、貼裝精密度、助焊膏包裝印刷或點焊質量、元器件標識等問題的檢測。


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